光學(xué)冷熱臺CH600S可表征樣品光學(xué)性能隨溫度變化的特征。采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現(xiàn)-190~600℃（選型）或RT~1600℃（選型）范圍內(nèi)精準控制，與其他光學(xué)設(shè)備（如顯微鏡、拉曼光譜等）搭配集成，進行變溫原位測試。

超高溫?zé)崤_可表征樣品光學(xué)性能隨溫度變化的特性。產(chǎn)品采用電阻加熱的方式，實現(xiàn)RT~1600℃范圍內(nèi)精準控制，與其他光學(xué)設(shè)備（如顯微鏡、拉曼光譜等）搭配集成，進行變溫原位測試。

超高溫?zé)崤_H1600

超高溫?zé)崤_H1600-1

半導(dǎo)體冷熱臺采用半導(dǎo)體冷熱控制，配合循環(huán)水散熱，實現(xiàn)從-25~120℃（選型）的控溫。無需液氮等致冷劑,具有無噪聲、無振動等特點。可以實現(xiàn)變溫光學(xué)測試，或者選配探針實現(xiàn)變溫電學(xué)測試。

mini熱臺是一款針對樣品變溫測試而設(shè)計的產(chǎn)品，產(chǎn)品尺寸小巧，使用便捷，可進行光學(xué)、電學(xué)測試。采用電阻加熱的方式，實現(xiàn)RT ~200℃范圍內(nèi)控溫，與其他光學(xué)、電學(xué)儀器組合搭配，進行變溫原位測試。

探針冷熱臺可表征樣品電學(xué)性能隨溫度變化的特征。產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現(xiàn)-190~600℃（選型）或RT~1600℃（選型）范圍內(nèi)精準控制，與其他電學(xué)儀表（如電橋、源表、萬用表）搭配集成，進行變溫原位測試。

探針冷熱臺ECH600S

外部調(diào)節(jié)探針臺A

超高溫探針熱臺H1000

電控位移探針冷熱臺（納米級）

高低溫試驗箱BCH180是一款針對樣品變溫測試的環(huán)境箱，同時滿足光學(xué)、電學(xué)等測試。通過向箱體內(nèi)通入低溫氮氣致冷和電加熱，實現(xiàn)箱體內(nèi) -120 ~ 180℃ （選型）范圍內(nèi)控溫。與其他光學(xué)、電學(xué)儀器組合搭配，進行變溫原位測試。

原位拉伸冷熱臺采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現(xiàn)-190~600℃溫度下材料的動態(tài)應(yīng)力應(yīng)變特性測試，可與顯微分析、電學(xué)分析相結(jié)合。

原位拉伸冷熱臺FS500

SEM原位拉伸冷熱臺是一款在掃描電鏡下研究樣品在變溫條件下進行應(yīng)力應(yīng)變測試的產(chǎn)品。原位拉伸模塊可以設(shè)定恒力或恒速方式進行拉伸、壓縮，或者按程序段進行往復(fù)運動。產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現(xiàn)-190~200℃（選型）或RT~ 1500℃（選型）溫度下材料的動態(tài)應(yīng)力應(yīng)變特性測試，可與顯微分析、電學(xué)分析相結(jié)合。

拉伸試驗機冷熱臺一種安裝在萬能試驗機上研究樣品在變溫條件下進行應(yīng)力應(yīng)變測試的產(chǎn)品。 產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現(xiàn)-190~600℃（選型）或RT~ 1500℃（選型）溫度下材料的動態(tài)應(yīng)力應(yīng)變特性測試，可選DIC、視頻引伸計實現(xiàn)應(yīng)變數(shù)據(jù)的高精度采集。

拉伸機冷熱臺A

拉伸機冷熱臺B

XRD原位冷熱臺是一種安裝在X-射線衍射儀上研究樣品變溫X-射線衍射的附件。XRD原位冷熱臺與各種X-射線衍射儀適配集成產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，提供-190~600℃（選型）或RT~ 1500℃（選型）溫度范圍內(nèi)的氣氛/真空測試環(huán)境。支持在各種X-射線衍射儀（布魯克 、賽默飛 、理學(xué)等）上定制樣品架進行適配。

XRD原位透射冷熱臺

XRD原位電池冷熱臺

SEM冷熱臺SCH200

原位電池冷熱臺針對電化學(xué)電池研究，設(shè)計的 多款原位測試裝置。 可實現(xiàn)原位XRD測試、光學(xué)測試等，同時可提供變溫環(huán)境（選配）

XRD原位鋰電冷熱臺

鋰電池原位變溫測試臺

光學(xué)原位觀測電池冷熱臺